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제2회 반도체 측정분석/신뢰성 기술 On-line 워크숍
2020년 9월 10일 @ 9:00 오전 - 2020년 9월 12일 @ 6:30 오후
안녕하십니까? 4차 산업혁명으로 초지능, 초연결 사회가 진행됨에 따라서 반도체 수요가 급격하게 증가하고 있습니다. 반도체 연구개발 및 제조상에서 측정분석 및 신뢰성 기술은 제품의 특성 및 성능을 평가하는 중요한 기반 기술입니다. 이에 반도체공학회는 반도체 측정분석/신뢰성 기술 전반에 대해서 소개하고, 최신 현황에 대해서 정보를 공유하기 위해 제2회 반도체 측정분석/신뢰성 기술 워크숍을 준비하였습니다. 본 워크숍에서는 소자 및 설계 분석의 기초 및 응용, 나노 분석의 기초 및 응용, 반도체 Fab 측정 및 검사의 기초 및 응용, 반도체 고장 분석 및 신뢰성 분석의 기초 및 응용 에 대한 전문가의 강의로 구성되었습니다. 반도체 관련 산학연 연구개발 및 기업에 종사하는 여러분의 많은 참석을 부탁 드리며, 이번 워크숍이 해당 업무에 도움이 되시기를 기원합니다. 반도체공학회 회장 정덕균
[행사 개요] o 일 자 : 2020년 9월 10일(목)~12일(토) o 장 소 : On-line o 대 상 : 산업체-연구소 연구원, 대학(원)생 o 주 최 : (사)반도체공학회 물성분석연구회 o 주 관 : 나노종합기술원
[프로그램]
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[강연 요약]
[참가 신청 및 등록 안내] o 홈페이지 : 학회 홈페이지 www.theise.org 공지사항 참고 o 참가 신청 : On-line 워크숍 홈페이지 추후 공지 o 사전등록 기한 : 2020년 9월 7일(월) 23:59 까지 o 등록비
o 결제 방법 : 무통장 입금; 국민은행 028201-01-094902 (예금주: (사)반도체공학회) 또는 홈페이지 신용카드 결제 o 전자계산서 발행 : 사업자등록증을 첨부하여 참가 신청서 제출 o 문의처 : (사)반도체공학회 사무국 02-553-2210 / workshop@theise.org |