제2회 반도체 측정분석/신뢰성 기술 On-line 워크숍
제2회 반도체 측정분석/신뢰성 기술 On-line 워크숍
– 반도체 개발을 위한 측정분석/신뢰성 기술의 기초 및 최신 응용 교육 –
일시 : 2020년 9월 10일(목)~20일(일)
장소 : On-line
주최 : 반도체공학회 물성분석연구회
주관: 나노종합기술원
일정 :
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시간 |
발표자 |
내용 |
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5분 |
등록 및 인사 |
반도체공학회장 |
| 80분 |
최우영 교수 (서강대학교) |
소자분석의 기초 및 응용 – 반도체 소자분석의 기초 – 전기적 특성 측정 및 분석 |
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80분 |
범진욱 교수 (서강대학교) |
설계분석의 기초 및 응용 – 반도체 설계분석의 기초 – 반도체 설계분석의 응용 |
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80분 |
양준모 박사 (나노종합기술원) |
나노분석의 기초 및 응용 – 나노분석의 기초 – 구조분석(TEM/SEM/FIB 등) – 표면분석(SIMS, XPS, AES 등) |
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80분 |
신채호 박사 (한국표준과학연구원) |
반도체 Fab 측정 및 검사의 기초 및 응용 – Fab 측정 및 검사의 기초 – 최신 응용 |
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120분 |
장효성 박사 (㈜뉴턴) |
반도체 고장 분석 및 신뢰성분석의 기초 및 응용 – 고장분석의 기초 및 응용 – 신뢰성 분석의 기초 및 응용 |
등록 안내:
- 대 상 : 산업체연구소 연구원, 대학(원)생
- 등록비 : 일반 15만원 / 학생 10만원
- 등록방법 : 계좌이체 또는 현장 카드결제
- 등록비 입금계좌 : 국민은행 028201-01-094902 (사)반도체공학회
- 문의처 : 반도체공학회 사무국 E-mail : workshop@theise.org, TEL : 02-553-2210