초대의 글
안녕하십니까? 회원님의 건강을 기원합니다.
초지능, 초연결 사회가 진행됨에 따라서 반도체 수요가 급격하게 증가하고 있고, 반도체 기술 주도권이 국가경쟁력으로 인식하고 있습니다.
나노급으로 미세화되고 있는 반도체 연구개발 및 제조상에서 반도체 물성분석 기술은 소자특성 및 공정 수준을 평가하는 중요한 기반 기술입니다.
이에 반도체공학회는 반도체 물성분석 기술 전반에 대해서 소개하고, 최신 현황에 대해서 정보를 공유하기 위해 물성분석 기술 워크숍을 준비하였습니다.
이번 워크숍에서는 소자 및 설계 분석의 기초 및 응용, 나노 분석의 기초 및 응용, 반도체 Fab 측정 및 검사의 기초 및 응용에 대한 전문가의 강의로 구성되었습니다.
반도체 관련 산학연 연구개발 및 기업에 종사하는 여러분의 많은 참석을 부탁드리며, 이번 워크숍이 해당 업무에 도움이 되시기를 기원합니다.
감사합니다.
2023년 7월
물성분석연구회 위원장 강상우
물성분석연구회 부위원장 양준모
반도체공학회 회장 이규복
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행사 개요
- 행사명: 반도체공학회 물성분석 기술 워크숍
- 일시: 2023년 8월 17일 (목) 09:00~17:50
- 장소: 나노종합기술원 1층 나노홀
- 주최: (사)반도체공학회 물성분석연구회
- 후원: 나노종합기술원
프로그램
| 시간 |
강연 제목 |
강연자 |
| 09:00~09:30 |
등록 |
| 09:30~10:40 |
최신 반도체소자 개발 현황
- DRAM 소자의 기술적 발전 방향
- NAND 소자의 기술적 발전 방향
- 로직 소자의 기술적 발전 방향 |
김형섭 교수
(성균관대학교) |
| 10:50~12:00 |
소자분석의 기초 및 응용
- 반도체 소자분석의 기초
- 전기적 특성 측정 및 분석 |
최양규 교수
(KAIST) |
| 12:00~13:00 |
점심 |
| 13:00~14:10 |
설계분석의 기초 및 응용
- 반도체 설계분석의 기초
- 반도체 설계분석의 응용 |
범진욱 교수
(서강대학교) |
| 14:20~15:30 |
나노분석의 기초 및 응용
- 나노분석의 기초
- 구조분석(TEM/SEM/FIB 등)
- 표면분석(SIMS, XPS, AES 등) |
양준모 박사
(나노종합기술원) |
| 15:40~16:50 |
반도체 Fab 측정 및 검사의 기초 및 응용
- Fab 측정 및 검사의 기초
- Fab 측정 및 검사의 응용 |
신채호 박사
(한국표준과학연구원) |
| 17:00~17:50 |
나노팹 투어 |
홍대원 책임 (나노종합기술원) |
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* 주최측의 사정으로 프로그램이 일부 변경될 수 있습니다.
워크숍 자료 및 증빙 안내
- 워크숍 홈페이지 로그인 후 등록 완료 시, 행사 당일(8/17, 목)에 공개 허가된 발표자료에 한하여 다운로드가 가능합니다.
- 영수증(거래명세서)는 등록 후, 참가수료확인증은 강좌 종료일 다음 날 등록한 홈페이지 내 my account page에서 다운로드 가능합니다.
워크숍 등록 안내
| 구분 |
학생회원 |
일반회원 |
비회원 |
| 8월 10일(목) 까지 |
10만원 |
15만원 |
17만원 |
| 8월 11일(금) 부터 |
15만원 |
20만원 |
22만원 |
- 결제 방법 : 홈페이지 신용카드 결제 또는 무통장 입금; 국민은행, 028201-01-094902 (예금주: (사)반도체공학회)
* 전자계산서 발행 : 온라인 등록(무통장 입금 선택) 후 요청사항 및 사업자등록증을 문의처 메일로 송부
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